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PLS Plus激光微地貌扫描仪
用途：PLS Plus激光微地貌扫描仪基于三角测量原理测量地表微地貌高程，采用激光扫描获取各点高程，测量精度可以达到亚毫米级，测量过程无需接触土壤表面，解决了测针法对土表扰动的弊端，测量结果更可靠，能准确反映地表微地貌的细微变化。
原理及应用：利用线性激光的反射与CCD成像原理，将地表形态转换成不同物象点位置的电信号，再经计算机软件处理成数字高程模型（DEM），进而评价土壤侵蚀程度或进行相关机理研究。相对于PLS第一代产品，扫描速度更快，精度更高，采用笔记本电脑采集数据，野外使用更加方便。
应用领域：
■土表微地貌特征评价指标筛选与算法实现
■连续降雨过程中土表微地貌特征演变
■不同粗糙度土表粗糙度模型建立
■不同坡度剖面侵蚀及侵蚀泥沙分布
实测图：
技术参数：
■剖面分辨率：0.5 mm
■垂直分辨率：0.1 mm
■测量宽度：60 cm
■测量长度：最大3 m
■每分钟可扫描大于400个剖面
■实验室和野外都可使用
■没有土壤类型限制
■数据为XYZ 高程或矩阵数据
仪器配置：
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主系统： ■3米移动滑轨（长度可按要求定制） ■激光器发射器 ■CCD照相机及镜头 ■笔记本电脑（可选野外笔记本电脑） ■系统控制箱 ■野外使用可选蓄电池或交流电供电（需订购时说明） |
移动框架： ■铝合金框架 ■4个万向轮 ■4个水平调整器 ■扫描仪固定装置 |
产地：美国
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